LT STM/nc-AFM

不同于扫描隧道显微镜STM，原子力显微镜（AFM）主要通过探测针尖和样品间的相互作用力获得样品表面信息，不需要导电的样品，可以研究比STM更为广泛的样品体系，自发明以来迅速成为基础科学和应用研究领域中一种强有力的工具。近几年发展起来的基于q-Plus技术的非接触式原子力显微镜（q-Plus non-contact AFM），通过关键部件原子力传感器的改进，进一步拓展了原子力显微镜的探测能力，从而在许多研究方向上取得了重要突破。本系统是在我们自行研制低温STM构架的基础上，研制集成了q-plus型非接触AFM探头，可以同时以STM和nc-AFM模式工作，获得亚分子级的超高分辨。